1. Microstructural characterization of materials
المؤلف: Brandon, D. G.
المکتبة: (سمنان)
موضوع: Microscopy ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
B73
2008
2. Microstructural characterization of materials
المؤلف: Brandon, D. G.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Microscopy ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
B73
2008
3. Microstructural characterization of materials
المؤلف: Brandon, D. G.
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز المعلومات (خراسان رضوی)
موضوع: Microscopy ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
B73
2008
4. Microstructural characterization of materials /
المؤلف: David Brandon and Wayne D. Kaplan
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Materials-- Microscopy,Microstructure,Materiais,Microscopia
رده :
TA417
.
23
.
B73
2008
5. Microstructural characterization of materials
المؤلف: David Brandon and Wyne D. Kaplan
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (طهران)
موضوع: Materials--Microscopy,Microstructure
6. Microstructural characterization of materials
المؤلف: Brandon, D. G.
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: Microscopy ، Materials,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
B73
2008
7. Microstructural chracterization of materials
المؤلف: / by David Brandon and Wayne D. Kaplan
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Materials- Microscopy,Microstructure
رده :
TA417
.
23
.
B73
1999
8. #Microtexture determination and its applications
پدیدآورنده : #V. Randle
موضوع : Materials- Texture ،Microstructure ،Materials- Microscopy
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
9. Microtexture determination and its applications
المؤلف: Randle, Valerie
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Texture ، Materials,، Microstructure,Microscopy ، Materials
رده :
TA
418
.
5
.
R38
2003
10. Microtexture determination and its applications
المؤلف: / V. Randle
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Materials -- Texture,Microstructure,Materials -- Microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
R38
2003
11. Quantitative microscopy of high temperature materials
المؤلف: edited by A. Strang and J. Cawley.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Materials at high temperatures, Congresses.,Materials-- Creep, Congresses.,Microscopy-- Technique, Congresses.,Microstructure, Congresses.
رده :
TA418
.
22
.
Q36
2001eb
12. Structural and chemical analysis of materials
المؤلف: / J.P. Eberhart
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Materials - Microscopy,Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
13. Structural and chemical analysis of materials
المؤلف: / J.P. Eberhart
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Materials - Microscopy,Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
14. Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy, Analyse structurale et chimique des materiaux. English
المؤلف: Eberhart, J. P.)Jean Pierre(
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Materials-- Microscopy,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
15. Structural and chemical analysis of materials:X-ray,electron and neutron diffraction,X-ray,electron and ion spectrometry electron microscopy.
المؤلف: / J.P.Eberhart.
المکتبة: المكتبة المركزية لجامعة إيلام (إیلام)
موضوع: Materials-Microscopy,Microstructure
رده :
TA417
.
23
.
E2413
1991
16. Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy
المؤلف: Eberhart, Jean Pierre
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Materials -- Microscopy,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
17. Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction; X-ray, electron and ion spectrometry; electron microscopy
المؤلف: Eberhart, Jean Pierre
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Materials - Microscopy,، Microstructure
رده :
TA
417
.
23
.
E2413
1991
18. Structural and chemical analysis of materials:X-ray electron and neutron diffraction,X-ray,electron and ion spectrometry electron microscopy
المؤلف: / J.P.Eberhart
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Materials - Microscopy,Microstructure
رده :
TA417
.
23
.
E2413
1991
